工業(yè)內(nèi)窺鏡搭載3D相位掃描測量法可有效降低測量選點誤差
韋林工業(yè)內(nèi)窺鏡搭載了業(yè)內(nèi)先進的測量方法,具體包括:單物鏡的三維立體相位掃描測量3DPM、和三維立體雙物鏡測量技術(shù)3DPM。工業(yè)內(nèi)窺鏡搭載3D相位掃描測量法可生成真正意義上的三維還原圖,可有效降低測量選點誤差,比傳統(tǒng)雙物鏡測量法優(yōu)越。
使用工業(yè)內(nèi)窺鏡進行檢測并對缺陷進行測量時,檢測人員往往需要在圖像上選點,然后再進行長度測量、距離測量等操作。傳統(tǒng)雙物鏡測量,因為被檢對象結(jié)構(gòu)的復雜性以及視覺誤差等諸多因素,容易出現(xiàn)人為選點誤差,從而造成測量結(jié)果有較大的偏差。而3D相位掃描測量法的測量探頭與常規(guī)探頭不同,探頭與鏡頭內(nèi)置光柵電學連接,3D相位測量技術(shù)通過光柵掃描被測物表面,獲取3D相位測量圖像,確定每個點的唯一坐標,并在后臺可建立3D點云圖形及深度圖,可通過點云圖判斷打點的位置,從而大大降低了人為選點失誤的概率。
如下圖所示,為傳統(tǒng)雙物鏡測量葉片邊緣掉塊的示意圖。為了保證測量精度,通常在盡可能靠近葉片邊緣處選點。圖中選點看似準確,應(yīng)該是選在該級葉片上,但實際情況是選在了發(fā)動機機匣上,構(gòu)成了空間的點到線測量,造成了測量誤差。這種情況在采用傳統(tǒng)雙物鏡測量法時難免發(fā)生,肉眼難以分辨,測量結(jié)果自然不準確。
采用3D技術(shù)可以解決這一問題。針對上述情況,如果采用3D相位測量技術(shù),可以構(gòu)建3D點云圖形,并協(xié)助判斷打點位置,如下圖所示,可以看出之前所選的靠下位置的點已經(jīng)脫離該級葉片的表面,實現(xiàn)上是位于下一級葉片上。糾正后的正確選點位置如圖中綠色線條所示,通過及時發(fā)現(xiàn)選點誤差并加以修正,從而得到正確的測量結(jié)果。
韋林工業(yè)內(nèi)窺鏡Mentor Visual iQ,不僅支持單物鏡的三維立體相位掃描測量,也支持三維立體雙物鏡測量技術(shù),這在業(yè)內(nèi)其他同類產(chǎn)品中都是做不到的。韋林工業(yè)內(nèi)窺鏡搭載3D相位掃描測量法,可通過點云圖,精準選點,避免引入人為誤差,測量結(jié)果更準確!
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