三維掃描測量內(nèi)窺鏡的優(yōu)勢與使用注意事項(xiàng)
具有缺陷測量功能的內(nèi)窺鏡產(chǎn)品哪種比較好呢?三維掃描測量內(nèi)窺鏡利用主動(dòng)掃描技術(shù)測量缺陷,例如:進(jìn)口內(nèi)窺鏡韋林 Mentor Viusal iQ 搭載的相位掃描三維立體測量技術(shù),不僅無需頻繁更換鏡頭、3D表面輪廓有助于提升測量準(zhǔn)確度,而且不要求準(zhǔn)確對(duì)焦、具有MTD距離指示等,也是其顯著優(yōu)勢。本文重點(diǎn)介紹后兩點(diǎn),其他內(nèi)容可以關(guān)注“相關(guān)推薦”部分。
三維掃描測量內(nèi)窺鏡的優(yōu)勢
1. 不要求準(zhǔn)確對(duì)焦,測量數(shù)據(jù)更可信。傳統(tǒng)雙物鏡立體測量技術(shù)通過在立體圖像中匹配像素的原理實(shí)施測量,左右兩個(gè)視圖中的光標(biāo)位置非常關(guān)鍵,它們應(yīng)該是同一個(gè)像素,這樣測量結(jié)果才有保證,因此,要求圖像對(duì)焦準(zhǔn)確。而三維掃描測量通過采集投影在平面上的結(jié)構(gòu)光條紋圖形,生成多個(gè)XYZ點(diǎn),然后利用算法處理這些數(shù)據(jù),生成全表面點(diǎn)云圖,即使在圖像對(duì)焦不準(zhǔn)確的情況下,仍然能生成可準(zhǔn)確測量的XYZ數(shù)據(jù),測量數(shù)據(jù)更可信。
2. 內(nèi)窺鏡探頭至目標(biāo)的距離控制有保障。由于大部分測量技術(shù)都采用三角測量原理,隨著測量距離的增大,測量的準(zhǔn)確度會(huì)降低。因此,在測量時(shí)將內(nèi)窺鏡鏡頭靠近測量表面,這樣得到的測量結(jié)果通常比遠(yuǎn)離測量表面更加準(zhǔn)確,對(duì)于深度測量而言,尤其如此。但是探頭與目標(biāo)之間的距離把控,需要靠操作者的經(jīng)驗(yàn),這就給缺陷測量帶來了一定的不確定性。三維掃描測量內(nèi)窺鏡提供了一個(gè)最大目標(biāo)距離(MTD)值,表示在某次測量中,從鏡頭到最遠(yuǎn)光標(biāo)所在視圖面的距離,便于操作者參考,而且當(dāng)MTD對(duì)于當(dāng)前測量類型和尺寸來說過大時(shí),還會(huì)為操作者提供提示,通過良好的距離控制,實(shí)現(xiàn)更精準(zhǔn)的測量。
三維掃描測量內(nèi)窺鏡的使用注意事項(xiàng)
為了獲得高質(zhì)量的3D數(shù)據(jù),三維掃描測量內(nèi)窺鏡要捕捉大量的圖像,因此在捕捉測量圖像的過程中盡可能保持鏡頭與被測表面的相對(duì)靜止,抖動(dòng)、晃動(dòng)或者過早地移開,都可能對(duì)檢測影像的捕捉以及高質(zhì)量3D數(shù)據(jù)的生成造成影響。
以上為您介紹了三維掃描測量內(nèi)窺鏡的優(yōu)勢與使用注意事項(xiàng)。在工業(yè)內(nèi)窺鏡檢測中,影響測量結(jié)果的還有觀察角度、表面狀況、反射等等多方面的因素,因此要根據(jù)實(shí)際情況選擇適宜的測量技術(shù)以及采用正確的操控方式。如果您有任何疑問,歡迎咨詢北京韋林意威特工業(yè)內(nèi)窺鏡有限公司(http://www.kanxiaos.com)。
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